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產品列表
臺式光纖測試儀
產品信息
產品特點
1.測試數據閾值自動判定
2.芯片夾具可定制
3.測試路數可定制
4.測試數據圖形化
5.測試激光器芯片老化
6.測試時間可設置
產品概述
JW18001—LDM老化測試系統，針對激光器芯片，chip, Bar條，裸Die和COC器件的老化過程監控。采用系統架構及分離夾具進行的軟硬件設計，主機安裝在標準19英寸機柜中，分離夾具通過高溫導線與主機相連，營造出實時可控的老化環境。界面操作簡單，數據圖形化。設計有不同種類的老化測試夾具,適合不同封裝，不同尺寸的器件。老化完成后即可直接把夾具整體放到恒溫測試平臺上完成器件的LIV曲線，光譜和消光比的測試。
1.測試數據閾值自動判定
2.芯片夾具可定制
3.測試路數可定制
4.測試數據圖形化
5.測試激光器芯片老化
6.測試時間可設置
產品概述
JW18001—LDM老化測試系統，針對激光器芯片，chip, Bar條，裸Die和COC器件的老化過程監控。采用系統架構及分離夾具進行的軟硬件設計，主機安裝在標準19英寸機柜中，分離夾具通過高溫導線與主機相連，營造出實時可控的老化環境。界面操作簡單，數據圖形化。設計有不同種類的老化測試夾具,適合不同封裝，不同尺寸的器件。老化完成后即可直接把夾具整體放到恒溫測試平臺上完成器件的LIV曲線，光譜和消光比的測試。
- 購買人 會員級別 數量 屬性 購買時間
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- 商品滿意度 ：
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暫無評價信息
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產品特點
1.平臺采用主控板+轉接板+功能模塊的硬件架構設計
2.平臺模塊化設計，可靈活配置、擴展應用
3.支持熱插拔，機箱內置槽位識別，上電控制等功能
4.支持網口或串口通信控制
5.JW18001測試平臺配有Windows10操作系統
6.可根據需求選擇配備機箱顯示屏幕及按鍵，靈活方便
7.JW18000/18001測試平臺最多支持七個模塊
8.JW18002最多支持兩個模塊
9.JW18003最多支持三個模塊￥0.00￥0.00
